2026年9月9日至11日，中国国际光电博览会（CIOE）期间，Santec将在10号馆10A52展台重磅展出专为CPO和NPO领域打造的全栈光学测试解决方案。依托全套自研光子测试仪器，打通芯片级、器件级、模块到系统级别失效分析，兼顾实验室研发与产线自动化测试，助力客户提升产品良率，加速下一代光互连落地。
我们诚邀您在今年的CIOE期间莅临Santec展台10A52，现场体验CPO/NPO全栈光学测试解决方案，共同探索光电互连的未来！
四大核心测试系统组合
硅光PIC芯片高精度对准与测试系统
可调谐激光器TSL-570（O-band）搭配偏振控制器PCU-200及光功率计MPM-220（MPM-212模块）,这套方案可自动测算IL/PDL/WDL，适配硅光芯片光谱与偏振特性表征，尤其能测试高达30dBPDL。
链路微裂纹与失效分析综合系统
由可调谐激光器TSL-570（O-band）、高精度光链路分析仪SPA-200和光开关OSX-150组成的综合系统，高达5μm空间分辨率的OFDR技术，能覆盖来料检验（MT-FAU微裂纹）、PIC耦合事件点分析、交换机组装失效定位等；多通道MEMS光开关实现多通道自动轮询测试能力，以匹配产线量产测试需求。
CPO专属超大功率测试方案
TSL-570TypeU（O-band）搭配光功率计OPM-200，高达27dBm的超高光输出功率可调光源和配备积分球探测器（integratingspheredetector）实现精准测量高达30dBm的光功率计，支持CPO系统场景下的高功率光引擎、硅光器件性能与可靠性测试等需求。
偏振消光比(PER)高效测试平台
针对ELSFP和保偏光纤阵列（FAU）的批量生产测试，Santec推出的PEM-400大功率偏振消光比测试仪能够测量高达30dB的PER、偏振角度（angleofpolarization）以及有源器件的绝对输出功率（absolutepower）；创新的广域探测器设计以及集成高稳定光开关（repeatability在±0.005dB以内）实现优越的多通道PER测量，输出端口高达24个。
诚邀您莅临10号馆10A52展台，与Santec技术团队面对面交流！
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