在AI技术爆发式发展的驱动下，算力需求的持续攀升对光模块的通道密度与传输速率提出了更高要求。随着高密度光互联与光电共封装（CPO，Co-PackagedOptics）等先进架构加速落地，光纤、波导、透镜等元件间的耦合精度——特别是关键器件的位置、距离参数——成为了决定系统性能的核心瓶颈，在光链路日益精密复杂情况下，传统测试手段已难以满足微米级无损的距离测量需求。
针对这一行业共性难题，武汉昊衡科技通过持续技术革新，其光纤微裂纹干涉仪（OLI）已成功实现数十微米量级的事件点分辨能力。这一突破意味着设备能够在非接触、无损条件下，精准识别光链路中微米级别的耦合位置与间距，为高密度光互联、CPO封装中的光纤、波导及透镜耦合等场景，提供直观、可靠的数据支撑，从而有效助力工艺优化与方案验证。
案例测试
本次实验以光纤端面为测试事件点，通过光纤熔接机精准构造不同距离的测试场景，使用昊衡科技OLI设备，对不同距离的两个反射事件点进行扫描测量。
首先，对带有连接头的普通单模光纤（裸纤）末端进行光纤切割（保证末端是平面，即单一反射点。如果端面不处理，则光纤断面可能有多个反射点或面，从而引起测试结果反射峰展宽，影响测量精度）。把两根切割好的裸光纤放进熔接机内，调整熔接参数，使两根光纤熔接时的间距在数十微米级别。不同间距的测试结果如下：
30um间距
OLI对30um的空气间隙测试结果如下：
20um间距
OLI对20um的空气间隙测试结果如下：
10um间距
OLI对10um的空气间隙测试结果如下：
总结
从以上结果可以看出，在数十um的距离情况下，OLI可以明显分辨相邻两个反射事件点（对应两个事件点反射峰），且本次实验案例中，两个光纤反射端面间隙是空气，空气对光的折射率比光纤要更低，如果对应测量光纤中某两个事件点的距离，则设备分辨的极限距离将更小。
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