在半导体器件研发的前沿，每一次材料突破与工艺迭代，都离不开对电学特性的极致洞察。从传统硅基到新型存储与逻辑芯片，从微米级CMOS到原子尺度的二维材料，测试仪器始终是连接物理世界与仿真模型的桥梁。
今天，我们正式推出全新一代半导体参数分析仪SA8000。这是一款基于全自主知识产权架构，集亚飞安级电流分辨率、模块化灵活扩展于一身的高端测试平台，旨在为全球半导体研发工程师提供精准与高效的测量方案。
产品优势
极致微弱电流探测
依托在源表领域持续多年的技术积累，SA8000实现了0.1fA（10-16 A）的电流测量分辨率，能稳定捕捉忆阻器、量子点等器件的超微弱信号，为前沿探索提供可靠的微弱信号测量能力。
全集成多维度测试能力
系统基于PXIe架构支持最多18个模块同时工作，可灵活组合直流IV、CV及快速脉冲测量单元。通过高速总线通讯及统一的同步触发管理，可以适配多种PXIe仪表。无需在多台仪器间反复切换，显著提升测试效率与数据一致性。
无需编程的QuickTest模式
经典测试模式：支持灵活多样的参数配置，满足多种测试场景需求；应用测试模式：可选用预置的多种器件算法，快速测试器件的特性曲线或关键参数；序列测试模式：支持自动顺序执行由多个经典测试或应用测试编辑的测试序列；
自定义器件测试算法
应用测试模式中的器件算法使用python编程，开放供客户自定义器件测试算法。用户可根据自身研究需求，自定义器件的测试过程以及参数提取算法，极大提升测试灵活性与算法可复现性。
主要可选模块如下：
典型应用
SA8000广泛应用于各类半导体器件的研发与测试场景，涵盖传统器件与前沿研究领域：
典型的前沿领域应用：
1.忆阻器与神经形态计算研究内置波形产生与快速测量单元，最小脉宽200ns，可实时记录阻变过程，为类脑计算芯片提供高保真原始数据。
2.二维材料与量子器件研究得益于0.1fA的超低电流分辨率测量能力，SA8000可精准表征二维材料（如石墨烯、MoS₂）的微弱电导变化，支持量子点等新型器件的工作机制研究。
联讯仪器不止仪器
我们明白，使用这样的高精度工具需要一定的经验。因此，我们准备了：
开箱即用的测量软件：内置针对常见半导体器件的测试算法，减少您的设置时间。
详尽的应用笔记：围绕常见测量场景及问题，提供一步步的操作方法和数据分析建议。
专业的技术支持：我们的应用工程师团队随时准备为您解答在测量搭建和数据分析中遇到的具体问题。
关于联讯
作为国内高端测试仪器与设备供应商，联讯聚焦高速通信、光芯片及半导体晶圆芯片测试领域，已形成“仪器+设备+解决方案”的完整生态。其产品矩阵包括:
高速测试仪表:采样示波器、时钟恢复单元、误码仪、波长计、精密源表等
光芯片测试设备:激光器CoC老化、裸芯片测试、硅光晶圆测试系统等
半导体测试设备:SiC晶圆老化、SiC裸芯片KGD测试分选、WAT晶圆参数测试系统
行业解决方案:1.6T光互连测试方案等，全面满足客户多元化需求。
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