光器件自动化测试系统的创新领军者--众望达光电近日隆重推出36/48通道MT/MMC-FA测试系统，并宣布赢得了多家客户的批量订单。
据光纤在线了解，36/48通道FAU主要应用于CPO/NPO架构的高密度光互联，用于解决高带宽下的空间压缩与信号传输效率问题，是连接光引擎与外部光纤网络的关键桥梁。
众望达研发负责人介绍，36/48通道FAU通常采用"16收+16发+4个保偏MT"的复合结构，通过V形槽基板实现光纤的微米级精度排列。针对当前市场主流需求，众望达新推出的测试系统主要覆盖两大产品形态：
1.PM-MT(4CH)+MT(32CH)-->36CHFA
2.PM-MT(4CH)+4*MMC(8CH)-->36CHFA
MMC是USConec开发的自有规格，体积仅为传统MPO的1/3甚至更小，旨在解决AI集群万卡规模下的空间受限问题，单位面积端口密度可提升4-6倍。
众望达研发负责人表示："随着2026年下半年英伟达、博通等芯片巨头将光学正式引入柜内Scale-Up场景，以及国内超节点带动高密度的连接，36通道及以上的高密度FAU与微型化MMC连接器将成为刚需，但高密度意味着更高的制造精度要求和更复杂的测试挑战，测试环节的效率与可靠性将直接决定产品能否顺利进入量产。
分立式架构设计，从容应对技术迭代
据了解，该款MT/MMC-FA测试系统，兼具FA坐标、波长数量、极性测试、插回损测试，以及极性/插回损测试先后顺序等。
值得注意的是，随着CPO/NPO方案的不断演进，FAU的方案变化快速，从早前的12通道FAU到后来的16通道，并延伸到今天的48通道，FAU厂商对于生产测试设备商的设计能力与品控要求也愈发严苛。以众望达这款测试系统为例，其中的核心器件光开关，通道数也从之前的16通道快速向48通道升级，这对设备架构的灵活性与可扩展性提出了前所未有的挑战。
众望达在设计该系列MT-FA测试系统时，前瞻性地采用了分立式架构方案，充分考虑了技术迭代与设备升级的需求。这一设计理念不仅大幅降低了客户的设备投资成本，也有效缩短了新产品导入周期，使面向36/48通道的高密度FAU测试系统成为当前及未来一段时期内的核心能力支点。
持续创新，夯实光器件测试领军地位
众望达光电成立于2004年，核心团队深耕光电检测技术及通信传感技术超过20年，是国家高新技术企业及深圳市"专精特新"中小企业。
2024年3月，众望达推出MT-FA组件自动测试系统，并在400G/800G/1.6T高速光模块领域实现广泛应用，并于2024年斩获CFCF光连接大会"年度创新产品奖"。
2026年6月，众望达已完成MT-FA自动测试系统的全面升级，实现了对1.6T高速光模块16芯MT-FA产品单波长插回损和极性测试仅需20秒的高效性能，并充分适配100G/400G/800G/1.6T/NPO量产场景下绝大多数FA差异化形态。
此次36/48通道MT/MMC-FA测试系统的推出，是众望达FAU测试系列产品矩阵的又一次重要跃迁，为产业链上下游客户应对3.2T/6.4T时代的技术挑战提供了可靠的测试保障。
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