Santec全新推出第八代高性能可调谐激光器TSL-580，产品具备宽波长调谐范围、稳定输出功率与良好信噪比表现。产品延续前代在扫描控制、波长分辨率、波长精度及宽精细调谐范围的技术积累，采用重新设计的激光谐振腔与升级控制电子系统，面向自动化光学测试系统提供可靠光源支撑。
全新谐振腔设计在提升可用输出功率的同时，优化波长扫描线性度，为扫描式波长测量提供功率与稳定性更均衡的光源。升级后的控制电子系统可实现更窄线宽，在对频率稳定性与波长控制要求较高的光学测试应用中，保持精准的测量表现。
TSL-580可搭配Santec光功率计与偏振控制器，支持插入损耗（IL）与偏振相关损耗（PDL）测量，适用于光器件测试、光子集成电路（PIC）表征、光谱分析、传感及量子光子学等应用场景。
高输出功率支持多样测试场景
通过优化谐振腔设计，TSL-580在连续波（CW）工作模式下峰值输出功率可达15dBm以上，在高插入损耗器件测试、硅光子学表面光栅耦合表征等功率需求较高的场景中，可维持稳定测量条件。
窄线宽支持高精度测量
全新的控制电路设计，TSL-580Q型在相干控制开启时窄线宽典型值可达20kHz，可显著降低极窄光谱区间测量中的噪声影响，为量子光学、高精度传感等应用提供更高分辨率的测量基础。
优异的波长扫描线性度
通过优化驱动系统，波长扫描线性度典型值控制5%以内，在光谱分析、传感等依赖连续波长扫描的应用中，可实现更稳定的扫描过程与更可靠的数据输出。
作为Santec第八代可调谐激光器，TSL-580以优化的谐振腔与控制电路设计，在功率、线宽、扫描线性度及波长控制等方面实现均衡提升，可满足实验室研发与产线自动化测试的长期使用需求，为光通信、硅光子、量子光子学、精密传感等领域，以及光子学表征、光器件测试、光纤传输检测、光学光谱分析等领域提供可靠支撑。
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